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コンタクトプローブ
コンタクトプローブ【基板導通検査用ワイヤ】 英語版


New 世界最小径レベル! 直径20ミクロンの電子部品検査用コンタクトプローブを開発

TOTOKUは現在、細径品として、40μm、30μmを量産対応中です。さらに細径の25μm、20μmを開発しておりサンプル対応中です。パッケージ基板検査用プローブとしての需要の他に、半導体検査用のプローブカードに搭載する微細プローブやパワー半導体検査用プローブとしての需要も多く出てきております。
電子部品の小型化によって電子部品電極の狭ピッチ化が進み、狭ピッチ対応の検査用コンタクトプローブが必要とされてきています。 弊社では、自社保有の真直サスペンションワイヤ技術と表面処理技術および絶縁加工技術、そして新たに開発した端末微細加工技術を融合させ、狭ピッチ電極の電子部品検査に適した[ニードルタイプコンタクトプローブ]を開発しました。
●構造  
コンタクトプローブ【基板導通検査用ワイヤー】
特長1超極細
特長2高精細
●製品使用例  
 
  • ICパッケージ基板の導通検査
  • 狭ピッチパターンプリント基板の導通検査
  • 液晶パネルの導通検査
  • 各種コネクタの導通検査
  • 多層基板のケルビン抵抗測定(擬似接触の検出)
  • 垂直型プローブカード用
  • パワー半導体検査
  • (例)ICパッケージ基板検査
    ●仕様
    仕様
     
     

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