電子部品の小型化によって電子部品電極の狭ピッチ化が進み、狭ピッチ対応の検査用コンタクトプローブが必要とされてきています。弊社では、自社保有の真直サスペンションワイヤ技術と表面処理技術および絶縁加工技術、そして新たに開発した端末微細加工技術を融合させ、狭ピッチ電極の電子部品検査に適したニードルタイプコンタクトプローブを開発しました。   ●コンタクトプローブ   タングステン材などの導体材料を用いたワイヤータイプのコンタクトプローブです。 現在、細径品として、40μm、30μmを量産対応中です。さらに細径の25μm、20μmを開発しておりサンプル対応中です。   ●パラジウム合金コンタクトプローブ　NEW   新たにパラジウム合金を導体材料に採用したコンタクトプローブを開発しました。様々な優れた特長を備えています。     　 ・「コンタクトプローブユニットの試作サービス」はこちら   ・「世界最小径レベル！ 直径20ミクロンの電子部品検査用コンタクトプローブを開発（2011年11月1日）」はこちら（PDF）